荧光寿命（ FLT）检测

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萤光寿命（FLT）测量

摘要

这个技术指南介绍了萤光寿命（FLT）这些新技术的基本原理。从这本技术指南里，我们可以简单的了解与这项技术相关的理论基础和与之配合的实验条件，以及通过一项应用实例讨论了怎样对实验中所获得的数据进行解析和归类的技巧。

•多孔板技术在骁龙量筛选中的价值

使用者借助一个或则是标记物受光迸发后，通过一台普通的多孔板阅读器，就可以检测生化和生物反应进程。常用的读取模式包括测量吸收光，萤光硬度(FI)，萤光偏振光（FP），时间区分萤光（TRF）。通常没有方式才能包含所有可能的剖析模式，假若达到这样的高分析程度，须要一个配套的方式才能覆盖尽可能宽的实验范围。虽然这么，，还是会有一种方式被优选选择，通过它就能得到更可靠的数据荧光寿命测试，更高档的信息荧光寿命测试，以及迅速的读取数据。

萤光寿命被定义成萤光剖析在回到能级之前留驻在迸发态的时间。萤光寿命对萤光标记物周围的微环境高度敏感。当标记一个反应对，因为物理反应改变这个反应对的状态（比如在酶反应体系中）或则是发生了与其他结合伴侣的结合（比如受体-官能团的结合），将影响到前面所提及的微环境。

无论怎样，测量萤光寿命将直接指示反应环境。这类讯号要远远强于一般会影响其它侦测方式的干扰讯号，因而它将为市场需求加入巨大的推进力。

Tecan早已融入了对萤光寿命的检查。不仅早已发展的各类检查方式以外，这项新技术促使技术平台具有更强的市场应用前景。

2.萤光寿命测定的原理

用Ultra测定萤光寿命采用的一种方式，亦称时间关联的单光子计数（TCSPC）。实验的基本流程显示在图1。

一个脉冲激光器重复迸发样品。调节迸发脉冲的硬度，促使对于任何一个脉冲，在侦测器上只有一个光子被计数。根据检测的激光脉冲和侦测器感应之间的这段时间，将计数值引入已用萤光计数和时间勾画的柱状图。这个基本实验的千万分之一的重复的数据积分会形成一个平滑的曲线，它代表的就是一条萤光衰减曲线。为了确保单光子计数模式，实验中采用的计数速度相当于迸发速度的1%。ULTRA的光源的迸发速度为25到100毫秒形成一次脉冲，进而促使使用者在不到1秒中才能在侦测器上搜集到1千万个重复计数。

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